纳米级自动光学检测设备(AOI)软件

项目背景

客户深研技术、拓展半导体前道检测市场,研发前道在线缺陷检测设备,同时其缺乏前道在线检测设备的开发经验。分析我司产品平台优势和技术团队的能力后,认为该平台能够为其提供有效助力,故全权委托我司进行检测设备软件系统研发。

上海市浦东新区郭守敬路498号(浦东软件园一期)15号楼505室